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孔、面铜测厚仪CMI760
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产 品: 浏览次数:125孔、面铜测厚仪CMI760 
品 牌: 牛津 
单 价: 100.00元/台 
最小起订量: 1 台 
供货总量: 100 台
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
更新日期: 2017-10-27 14:27  有效期至:长期有效
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详细信息
 CMI760CMI700系列专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计;采用微电阻和电涡流方式测量表面铜和孔内镀铜厚度。具有多功能性、高扩展性和先进的统计功能,统计功能用于数据整理分析。

型号

CMI760

CMI760E

备注

名称

台式面铜测厚仪

台式孔、面铜测厚仪

 

标配

l 700 SERIES主机及证书

l SRP-4面铜探头(内含SRP-4探针)

l NIST认证的面铜标准片及证书

l 700 SERIES主机及证书

l SRP-4面铜探头(内含SRP-4探针)

l NIST认证的面铜标准片及证书

l ETP孔铜探头

l NIST认证的ETP标准片及证书

SRP-4探针又称水晶头

选配

l SRG软件:数据不可编辑

l SRGD软件:带数据库

 

700 SERIES主机参数

l   量:8000字节,非易失性

l     寸:长××292.1×270×140mm

l     量:2.79Kg

l     源:AC220V

l 单位转换:通过一个按键实现英制和公制的自动转换

l     位:可选mils μmμinmmin%为显示单位

l     口:RS-232 串行接口,波特率可调,用于下载至打印机或计算机

l     示:带背光和宽视角的大LCD液晶显示屏,480(H)×32(V)象素

l 统计显示:测量个数,标准差,平均值,最大值,最小值

l 统计报告:需配置串行打印机或PC电脑下载,存储位置,测量个数,铜箔类型,线形铜线宽,测量日期/时间,平均值,标准差,方差百分比,准确度,最高值,最低值,值域,CPK 值,单个读数,时间戳,直方图

l     表:直方图,趋势图,X-R