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美国博曼（Bowman）BA100 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪-为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。
美国博曼（Bowman）分析仪器即使在客户遇到最严格的测试要求时也能够实现快速、方便、高效的XRF分析效果。
智能的紧凑式设计使得分析各种各样的应用变得更方便，在合理的价格范围内显著提升您的镀层产品质量控制。
性能与可操作性的最优化
紧凑式设计，改善效率和精度
高分辨半导体固态探测器（Si-Pin），提高稳定性和灵敏度
更短的预热时间，更长寿命的光管
多种规格一次滤波器和准直器
可变焦距适应复杂样品的测量需求
模块化设计，方便维修、维护
联系人：刘-工 158-1440-4453
简单的设计、强大的分析能力
快速、无损的分析
成份分析最多可达25种元素
同时可最多分析5层
基于基本参数法的镀层和成份分析方法
仅需一根USB线与电脑连接
快捷的面板控制按钮
占用空间小、轻量化设计
直观的用户界面
最大的分析灵活性，减少用户出错机会
基于Net framework框架的Xralizer软件
直观的图标引导用户界面
强大的定性、无标样分析功能
功能强大的标准片库
用于快速分析的可定制快捷键
灵活的数据显示与导出
强大的报告编辑生成器
膜厚测试仪、美国博曼BA100